巖石土壤礦石分析儀定義：

土壤中的有害金屬元素主要以鉛、砷、鎘、汞、銅、鎳、鋅、鉻為主。在對我國幾個重工業區、礦區、開發區以及污灌區土壤重金屬污染狀況的調查結果表明：土壤重金屬含量絕大部分高于土壤背景值，鎘、汞、鋅等明顯超標，某些重金屬元素含量間還存在著一定的伴生規律，這些重金屬元素的含量與土壤PH值呈負相關。

土壤中的重金屬主要來源于污灌、金屬礦藏開采、污泥利用、大氣飄塵以及金屬冶煉廠等。

此套儀器能夠實時對廠區、礦區、重工業區周邊的環境進行監測，從而有效的控制排放和污染治理，保障人們的健康和生命安全

 

巖石土壤礦石分析儀應用范圍：

可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿、粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層、各種礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦等

手持式礦石分析儀打破實驗室環境條件的限制，無需真空和氦氣保護就能分析鎂、鋁、硅、硫、磷等輕元素。實現現場實時多重采樣、快速分析礦石品位、進行礦石評定，巖芯分析、礦脈分布，繪制礦石分布圖等，是地質勘查、礦山開采，礦石貿易、環境檢測的必備工具。

 

巖石土壤礦石分析儀特點：

簡體中文界面

自校準功能，開機后無需等待即可測量

分析元素更小從鎂開始多達40多種

分析范圍從PPM級至90%以上

實時分析數據和圖譜現實

測量完全無損，不限樣品形狀限制

自動存儲數據和圖譜，無需人工干預

主機一體化設計，高強度密封，放水、防塵、抗沖級

一鍵式定時測量，操作更簡便

內置Bruker專業操作軟件，計算和顯示速度快。

儀器適應高溫、低溫、潮濕，雨天、沙塵等惡劣環境

儀器長時間不測量時會自動進入待機狀態，以節省電源和保護儀器

X射線管耐用性強，采用Peltier半導體恒溫制冷計算

選配GPS定位系統，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖

 

 

 

巖石土壤礦石分析儀技術規格：

1、重量尺寸：1.23Kg 25cm(L)×28cm(W)×9cm(H)

2、檢測器：XFlash 硅漂移檢測器（SDD），檢測速度快；分辨率：145eV；計數率：250Kcps

3、高分辨率Si-PIN檢測器；分辨率：195eV

4、激發源：X射線管，RH靶，電壓50kv

5、測量范圍：Mg-U/Ti~U

6、濾波器：5位自動濾波器

7、工作條件：溫度范圍：-20℃~ +55℃；濕度范圍：0~95%

8、操作系統：Windows Mobile5.0 Bruker專用軟件

9、電源：可交、直流供電；可充電鋰電池，可連續工作8-12小時

10、顯示器：240×320彩顯；65536像素；背景光可調；觸摸屏

11、系統安全：密碼保護，紅外和背散射雙重保護開關

12、數據存儲：能存儲數萬個數據及光譜

13、數據傳輸：USB、藍牙、普通U盤等

14、運輸保證：Pelican袖珍儀器箱，減震、抗壓、防水、密封

15、售后服務：2年，終身維護

16、認證證書：CE、TUV、ISO9001、IECEE

17、冷卻系統：Peltier半導體冷卻器

18、操作語言：包括中、英文在內共14種語言（用戶自選）

19、校準：Duplex校準

20、電池充電器：交流充電器；110/220V，50/60Hz

21、樣品高溫度：500℃/150℃